0.3微米銀粉

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0.3微米銀粉

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微納米銀粉

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產(chǎn)品描述
技術(shù)規(guī)格

一種以波長極短的電子束作為電子光源的儀器，通過高速、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經(jīng)電磁透鏡多級放大后成像。用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)，如單晶、多晶的衍射；透過樣品的電子束攜帶有樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)過物鏡的會聚調(diào)焦和初級放大后，進(jìn)入下級的透鏡進(jìn)行綜合放大成像；通過電子顯微鏡的高分辨率成像技術(shù)，可通過選區(qū)衍射圖（SAED）獲取襯底與薄膜晶格結(jié)構(gòu)的有關(guān)信息和界面結(jié)構(gòu)的信息。

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